
Verificar e medir: as suas vantagens
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| »mμFocus« com sensor »zep« e sistema de mesa inferior | 250 kg |
| mμFocus com sensor »zep-R« e sistema de mesa inferior | 270 kg |
| mμFocus com sensor »zep« sem sistema de mesa inferior | 75 kg |
| Eixo Z | 300 mm |
| AA (descreve a menor distância entre a lente e o objeto de medição) | Projeção de faixa3 |
| Princípio de medição | 0 mm |
| Menor raio mensurável | 3 μm |
| Abertura numérica | – |
| Eixo Z | 300 mm |
| AA | 20 mm |
| Princípio de medição | Microscópio confocal |
| Menor raio mensurável | 3 μm (valores para objetiva de 20 aumentos; valores para objetiva de 50 aumentos: 1,4 μm) |
| Abertura numérica | 0,42 mm |
| Ra | média aritmética ao longo de todo o comprimento de medição | |
| Rq | média quadrática | |
| Rt | altura total do perfil de rugosidade | |
| Rmax | altura máxima do perfil de rugosidade dentro de um único intervalo de medição | |
| Rz | altura média do perfil de rugosidade | |
| Rp | altura do pico maior no perfil de rugosidade | |
| Rv | profundidade do vale maior no perfil de rugosidade | |
| Rk | profundidade do núcleo, altura da área central | |
| Rpk | altura reduzida do centro | altura da ponta |
| Rvk | profundidade reduzida do sulco | |
| Mr1 | proporção de material acima da área central (curva de Abbott) | |
| Mr2 | proporção de material que suporta carga (curva de Abbott) | |
| Rsm | largura média da ranhura | |
| RPc | valor de contagem de picos |
| Sa | altura aritmética média da superfície limitada pela escala | |
| Sq | altura quadrática média da superfície limitada pela escala | |
| Sp | altura máxima do centro da superfície limitada pela escala | |
| Sv | altura máxima do vale da superfície limitada pela escala | |
| Sz | altura máxima da superfície limitada pela escala | |
| S10z | Altura de dez pontos da superfície | |
| Ssk | Inclinação da superfície limitada por escala | |
| Sku | Kurtose da superfície limitada por escala | |
| Sdq | Gradiente quadrático médio da superfície limitada por escala | |
| Sdr | Relação de transição desenvolvida de uma superfície limitada por escala | |
| FLT | nível | |
| Sk | altura do núcleo | |
| Spk | altura reduzida do centro | altura da ponta |
| Svk | altura reduzida do vale | |
| Smr1 | proporção de material dos picos | |
| Smr2 | proporção de material dos vales | |
| Vmc | volume do material do núcleo de uma superfície limitada por escala | |
| Vmp | volume do material do pico de uma superfície limitada por escala | |
| Vvc | volume vazio do núcleo de uma superfície limitada por escala | |
| Vvv | volume vazio dos vales de uma superfície limitada por escala | |
| Sxp | valor extremo da altura do centro | altura da ponta |
| Str | proporção da textura da superfície |

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