Testování a měření: Vaše výhody
Zjistěte, jaké možnosti nabízí společnost ZOLLER v oblasti kontroly nástrojů. Od kontrol v rámci výrobního procesu přes špičkové analýzy až po SKP, drsnost povrchu a vytváření digitálních dvojčat.
Více informací
Technické údaje
Hmotnost zařízení
| »mμFocus« se snímačem »zep« a podstavcovým systémem | 250 kg |
| »mμFocus« se snímačem »zep-R« a podstavcovým systémem | 270 kg |
| »mμFocus« se snímačem »zep« bez podstavcového systému | 75 kg |
Senzor »zep« pro měření geometrie břitu
| Osa Z | 300 mm |
| AA (udává nejmenší vzdálenost mezi objektivem a měřeným objektem) | Projekce pruhu 3 |
| Princip měření | 0 mm |
| Nejmenší měřitelný poloměr | 3 μm |
| Numerická apertura | – |
Senzor »zep-R« pro měření 3D geometrie břitu a drsnosti povrchu
| Osa Z | 300 mm |
| AA | 20 mm |
| Princip měření | Konfokální mikroskop |
| Nejmenší měřitelný poloměr | 3 μm (hodnoty pro 20násobný objektiv; hodnoty pro 50násobný objektiv: 1,4 μm) |
| Číselná apertura | 0,42 mm |
Drsnost profilu: Výběr měřitelných parametrů podle norem ISO 4287 a ISO 13565
| Ra | aritmetický průměr po celé délce měření |
| Rq | kvadratický průměr |
| Rt | celková výška profilu drsnosti |
| Rmax | maximální výška profilu drsnosti v rámci jednoho měřicího úseku |
| Rz | průměrná výška profilu drsnosti |
| Rp | výška největšího vrcholu profilu v profilu drsnosti |
| Rv | hloubka největšího údolí profilu v profilu drsnosti |
| Rk | hloubka jádra drsnosti, výška jádrové oblasti |
| Rpk | redukovaná výška vrcholu |
| Rvk | redukovaná hloubka rýhy |
| Mr1 | podíl materiálu nad jádrovou oblastí (Abbottova křivka) |
| Mr2 | podíl materiálu nesoucího zatížení (Abbottova křivka) |
| Rsm | střední šířka drážky |
| RPc | počet vrcholů |
Drsnost povrchu: Výběr měřitelných parametrů podle norem ISO 25178-2 a ISO 16610
| Sa | střední aritmetická výška povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sq | střední kvadratická výška povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sp | maximální výška vrcholu povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sv | maximální výška prohlubně povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sz | maximální výška povrchu ohraničeného měřítkem |
| S10z | Desetibodová výška povrchu |
| Ssk | Šikmost povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sku | Kurtóza povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sdq | Střední kvadratický gradient povrchu ohraničeného měřítkem |
| Sdr | Rozvinutý poměr přechodových ploch povrchu ohraničeného měřítkem |
| FLT | rovinnost |
| Sk | výška jádra |
| Spk | redukovaná výška vrcholu |
| Svk | redukovaná výška údolí |
| Smr1 | podíl materiálu ve vrcholech |
| Smr2 | podíl materiálu v údolích |
| Vmc | Objem jádrového materiálu povrchu s omezeným měřítkem |
| Vmp | Objem materiálu vrcholů povrchu s omezeným měřítkem |
| Vvc | Prázdný objem jádra povrchu s omezeným měřítkem |
| Vvv | Prázdný objem údolí povrchu s omezeným měřítkem |
| Sxp | Extrémní hodnota výšky vrcholů |
| Str | Poměr stran povrchové textury |
