Muayene ve ölçüm: avantajlarınız
ZOLLER ile takım muayenesinde nelerin mümkün olduğunu öğrenin: süreç odaklı muayenelerden SKP, pürüzlülük ve dijital ikiz oluşturmaya kadar üst düzey analizler.
Daha fazla bilgi
Teknik veriler
Kurulum ağırlıkları
| »zep« sensörlü ve alt tezgâhlı »mμFocus« | 250 kg |
| »zep-R« sensörlü ve alt tezgâhlı »mμFocus« | 270 kg |
| Alt tezgâhsız, »zep« sensörlü »mμFocus« | 75 kg |
Kesici kenar geometrisini ölçmek için »zep« sensörü
| Z ekseni | 300 mm |
| ÇM (objektif ile ölçülecek nesne arasındaki en küçük mesafeyi tanımlar) | Şerit projeksiyonu |
| Ölçüm prensibi | 0 mm |
| Ölçülebilir en küçük radyus | 3 μm |
| Sayısal açıklık | - |
3D kesici kenar geometrisini ve yüzey pürüzlülüğünü ölçmek için »zep-R« sensörü
| Z ekseni | 300 mm |
| ÇM | 20 mm |
| Ölçüm prensibi | Konfokal mikroskop |
| ölçülebilir en küçük radyus | 3 μm (20x objektif için değerler; 50x objektif için değerler: 1,4 μm) |
| Sayısal açıklık | 0,42 mm |
Profil pürüzlülüğü: ISO 4287 ve ISO 13565'e göre ölçülebilir parametrelerden seçki
| Ra | tüm ölçüm uzunluğu boyunca aritmetik ortalama değer |
| Rq | karesel ortalama değer |
| Rt | pürüzlülük profilinin toplam yüksekliği |
| Rmax | tek bir ölçüm bölümü içinde pürüzlülük profilinin maksimum yüksekliği |
| Rz | pürüzlülük profilinin ortalama yüksekliği |
| Rp | pürüzlülük profilindeki en büyük profil tepesinin yüksekliği |
| Rv | pürüzlülük profilindeki en büyük profil çukurunun derinliği |
| Rk | çekirdek pürüzlülük derinliği, çekirdek alanının yüksekliği |
| Rpk | indirgenmiş tepe yüksekliği |
| Rvk | indirgenmiş oluk derinliği |
| Mr1 | çekirdek alanının üzerindeki malzeme oranı (Abbott eğrisi) |
| Mr2 | taşıyıcı malzeme oranı (Abbott eğrisi) |
| Rsm | ortalama oluk genişliği |
| RPc | tepe sayısı değeri |
Yüzey pürüzlülüğü: ISO 25178-2 ve ISO 16610'a göre ölçülebilir parametrelerden seçki
| Sa | ölçek sınırlı yüzeyin aritmetik ortalama yüksekliği |
| Sq | ölçek sınırlı yüzeyin karesel ortalama yüksekliği |
| Sp | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum tepe yüksekliği |
| Sv | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum çukur derinliği |
| Sz | ölçek sınırlı yüzeyin maksimum yüksekliği |
| S10z | Yüzeyin on nokta yüksekliği |
| Ssk | ölçek sınırlı yüzeyin çarpıklığı |
| Sku | ölçek sınırlı yüzeyin basıklığı |
| Sdq | ölçek sınırlı yüzeyin karesel ortalama eğimi |
| Sdr | ölçek sınırlı yüzeyin gelişmiş arayüz alanı oranı |
| FLT | düzlük |
| Sk | çekirdek yüksekliği |
| Spk | indirgenmiş tepe yüksekliği |
| Svk | indirgenmiş çukur yüksekliği |
| Smr1 | tepelerin malzeme oranı |
| Smr2 | çukurların malzeme oranı |
| Vmc | ölçek sınırlı yüzeyin çekirdek malzeme hacmi |
| Vmp | ölçek sınırlı yüzeyin tepe malzeme hacmi |
| Vvc | ölçek sınırlı yüzeyin çekirdek boşluk hacmi |
| Vvv | ölçek sınırlı yüzeyin çukur boşluk hacmi |
| Sxp | tepe yüksekliğinin uç değeri |
| Str | yüzey dokusunun en-boy oranı |
