Kontrola a meranie: Vaše výhody
Zistite, aké možnosti ponúka spoločnosť ZOLLER v oblasti kontroly nástrojov. Od kontrol priamo v procese cez špičkové analýzy až po SKP, drsnosť a vytváranie digitálnych dvojčiat.
Viac informácií
Technické údaje
Hmotnosť v zostavenom stave
| »mμFocus« so senzorom »zep« a podstolovým systémom | 250 kg |
| »mμFocus« so senzorom »zep-R« a podstolovým systémom | 270 kg |
| »mμFocus« so senzorom »zep« bez podstolového systému | 75 kg |
Senzor »zep« na meranie geometrie rezných hrán
| Os Z | 300 mm |
| AA (označuje najmenšiu vzdialenosť medzi objektívom a meraným objektom) | Projekcia prúžku 3 |
| Princíp merania | 0 mm |
| Najmenší merateľný polomer | 3 μm |
| Numerická apertúra | – |
Senzor »zep-R« na meranie 3D geometrie rezných hrán a drsnosti povrchu
| Os Z | 300 mm |
| AA | 20 mm |
| Princíp merania | Konfokálny mikroskop |
| Najmenší merateľný polomer | 3 μm (hodnoty pre 20-násobný objektív; hodnoty pre 50-násobný objektív: 1,4 μm) |
| Numerická apertúra | 0,42 mm |
Drsnosť profilu: Výber merateľných parametrov podľa noriem ISO 4287 a ISO 13565
| Ra | aritmetický priemer po celej dĺžke merania |
| Rq | kvadratický priemer |
| Rt | celková výška profilu drsnosti |
| Rmax | maximálna výška profilu drsnosti v rámci jedného meracieho úseku |
| Rz | priemerná výška profilu drsnosti |
| Rp | výška najväčšieho vrcholu profilu v profile drsnosti |
| Rv | Hĺbka najväčšej doliny profilu v profile drsnosti |
| Rk | Hĺbka jadra, výška jadrovej oblasti |
| Rpk | Redukovaná výška vrcholu |
| Rvk | Redukovaná hĺbka drážky |
| Mr1 | Podiel materiálu nad jadrovou oblasťou (Abbottova krivka) |
| Mr2 | Podiel materiálu nesúceho zaťaženie (Abbottova krivka) |
| Rsm | priemerná šírka drážky |
| RPc | hodnota počtu vrcholov |
Drsnosť povrchu: Výber merateľných parametrov podľa noriem ISO 25178-2 a ISO 16610
| Sa | stredná aritmetická výška povrchu s obmedzeným rozsahom |
| Sq | stredná kvadratická výška povrchu s obmedzeným rozsahom |
| Sp | maximálna výška vrcholu povrchu s obmedzeným rozsahom |
| Sv | maximálna výška dna povrchu s obmedzeným rozsahom |
| Sz | maximálna výška povrchu s obmedzeným rozsahom |
| S10z | desaťbodová výška povrchu |
| Ssk | šikmosť povrchu s obmedzeným meradlom |
| Sku | kurtóza povrchu s obmedzeným meradlom |
| Sdq | stredný kvadratický gradient povrchu s obmedzeným meradlom |
| Sdr | rozvinutý pomer prechodových plôch povrchu s obmedzeným meradlom |
| FLT | Rovinnosť |
| Sk | Výška jadra |
| Spk | Redukovaná výška vrcholu |
| Svk | Redukovaná výška dna |
| Smr1 | Podiel materiálu vo vrcholoch |
| Smr2 | Podiel materiálu v dnoch |
| Vmc | Objem jadrového materiálu povrchu s obmedzeným meradlom |
| Vmp | Objem materiálu vrcholov povrchu s obmedzeným meradlom |
| Vvc | Prázdny objem jadra povrchu s obmedzeným meradlom |
| Vvv | Prázdny objem dolín povrchu s obmedzeným meradlom |
| Sxp | Extrémna hodnota výšky vrcholov |
| Str | Pomer strán textúry povrchu |
