检测和测量：您将获得的优势
了解ZOLLER在刀具检测方面能为您带来哪些可能。从贴近生产过程的检测或高端分析，到»skp«、粗糙度测量以及数字孪生的创建。
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技术参数
安装重量
| 配备 »zep«传感器和台下安装系统的 »mμFocus« | 250 kg |
| 配备 »zep-R«传感器和台下安装系统的 »mμFocus« | 270 kg |
| 配备 »zep«传感器但不带台下安装系统的 »mμFocus« | 75 kg |
»zep«刀具刃口几何形状测量传感器
| Z轴 | 300 毫米 |
| AA（指镜头与被测物体之间的最小距离） | 条纹投影3 |
| 测量原理 | 0 毫米 |
| 最小可测半径 | 3 微米 |
| 数值孔径 | – |
»zep-R«传感器，用于测量3D切削刃几何形状和表面粗糙度
| Z轴 | 300 毫米 |
| AA | 20 mm |
| 测量原理 | 共聚焦显微镜 |
| 最小可测半径 | 3 μm（20倍物镜；50倍物镜：1.4 μm） |
| 数值孔径 | 0.42 mm |
轮廓粗糙度：根据 ISO 4287 和 ISO 13565 标准选择可测量的参数
| Ra | 整个测量长度的算术平均值 |
| Rq | 平方平均值 |
| Rt | 粗糙度轮廓的总高度 |
| Rmax | 单个测量段内粗糙度轮廓的最大高度 |
| Rz | 粗糙度轮廓的平均高度 |
| Rp | 粗糙度轮廓中最大峰值的高度 |
| Rv | 粗糙度轮廓中最大谷值的深度 |
| Rk | 核心粗糙度深度，即核心区域的高度 |
| Rpk | 峰值高度的折算值 |
| Rvk | 沟槽深度的折算值 |
| Mr1 | 核心区域上方的材料占比（阿博特曲线） |
| Mr2 | 承重材料占比（阿博特曲线） |
| Rsm | 平均沟槽宽度 |
| RPc | 峰值计数值 |
表面粗糙度：根据 ISO 25178-2 和 ISO 16610 标准选择可测量的参数
| Sa | 尺度限定表面的算术平均高度 |
| Sq | 尺度限定表面的均方高度 |
| Sp | 尺度限定表面的最大峰值高度 |
| Sv | 尺度限定的表面最大凹高 |
| Sz | 尺度限定的表面最大高度 |
| S10z | 表面的十点高度 |
| Ssk | 尺度限定的表面偏斜度 |
| Sku | 尺度限制表面的峰度 |
| Sdq | 尺度限制表面的均方梯度 |
| Sdr | 尺度限制表面的展开过渡面比 |
| FLT | 平整度 |
| Sk | 芯高 |
| Spk | 简化峰高 |
| Svk | 简化谷高 |
| Smr1 | 峰部材料占比 |
| Smr2 | 谷部材料占比 |
| Vmc | 尺度化表面的核心材料体积 |
| Vmp | 尺度化表面的峰部材料体积 |
| Vvc | 尺度有限表面核心的空隙体积 |
| Vvv | 尺度有限表面谷部的空隙体积 |
| Sxp | 峰高极值 |
| Str | 表面纹理的宽高比 |
