工具検査機：そのメリット
ZOLLER を活用することで、工具検査においてどのようなことが可能になるかをご覧ください。工程に密着した検査やハイエンドな分析から、SKP、表面粗さ、デジタルツインの作成に至るまで。
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技術仕様
設置重量
| »mμFocus«（»zep«センサーおよびアンダーテーブルシステム搭載） | 250 kg |
| »mμFocus«（»zep-R«センサーおよびアンダーテーブルシステム搭載） | 270 kg |
| »mμFocus«（»zep«センサー搭載、アンダーテーブルシステムなし） | 75 kg |
»zep«刃先形状測定用センサー
| Z軸 | 300 mm |
| AA（レンズと測定対象物との最小距離を表す） | ストライプ投影3 |
| 測定原理 | 0 mm |
| 測定可能な最小半径 | 3 μm |
| 開口数 | – |
»zep-R«センサー：3D切削形状および表面粗さの測定用
| Z軸 | 300 mm |
| AA | 20 mm |
| 測定原理 | 共焦点顕微鏡 |
| 最小測定半径 | 3 μm（20倍対物レンズの場合；50倍対物レンズの場合：1.4 μm） |
| 開口数 | 0.42 mm |
表面粗さ：ISO 4287 および ISO 13565 に基づく測定可能なパラメータの選定
| Ra | 測定全長にわたる算術平均値 |
| Rq | 二乗平均値 |
| Rt | 粗さプロファイルの全高 |
| Rmax | 単一測定区間内の粗さプロファイルの最大高さ |
| Rz | 粗さプロファイルの平均高さ |
| Rp | 粗さプロファイルにおける最大のピーク高さ |
| Rv | 粗さプロファイルにおける最大の谷の深さ |
| Rk | コア粗さ、コア領域の高さ |
| Rpk | ピーク高さの低減値 |
| Rvk | 谷深さの低減値 |
| Mr1 | コア領域より上の材料割合（アボット曲線） |
| Mr2 | 荷重支持材料割合（アボット曲線） |
| Rsm | 平均溝幅 |
| RPc | ピークカウント値 |
表面粗さ：ISO 25178-2 および ISO 16610 に基づく測定可能なパラメータの選定
| Sa | スケール制限表面の算術平均高さ |
| Sq | スケール制限表面の二乗平均平方根高さ |
| Sp | スケール制限表面の最大山高 |
| Sv | スケール制限表面の最大谷高 |
| Sz | スケール制限表面の最大高さ |
| S10z | 表面の10点高さ |
| Ssk | スケール制限表面の歪度 |
| Sku | スケール制限表面の尖度 |
| Sdq | スケール制限表面の平均二乗勾配 |
| Sdr | スケール制限表面の展開された遷移面積比 |
| FLT | 平坦度 |
| Sk | コア高さ |
| Spk | ピーク高さの低減値 |
| Svk | 谷の高さの低減値 |
| Smr1 | ピークの材料割合 |
| Smr2 | 谷の材料割合 |
| Vmc | スケール制限表面のコア材料体積 |
| Vmp | スケール制限表面のピーク材料体積 |
| Vvc | スケール制限表面のコアの空隙体積 |
| Vvv | スケール制限表面の谷の空隙体積 |
| Sxp | ピーク高さの極値 |
| Str | 表面テクスチャのアスペクト比 |
